常見測(cè)試探針的種類和特性

測(cè)試針，用于測(cè)試線路板的一種常見的探針，表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3-10萬次的琴鋼線制作成的高性能彈簧。根據(jù)電子測(cè)試的用途可分為三種：光電路板測(cè)試探針、在線測(cè)試探針和微電子測(cè)試探針。 1、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品還不可能完全替代進(jìn)口產(chǎn)品；　　 2、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；但是80%的工廠還是選擇韓國(guó)的;　　 3、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。60%是LEENO LANYI， 30%日本精研 10%臺(tái)灣;　&n